


从包络上看,辐射源应该是属于电源部分引起的。但是还是要进步确认辐射源并确认辐射路径。
1、 简化设备模型,缩减到最小系统
1) 测试模型修改为24口全接1.5米网线自环广播,不接PD进行测试---为当天测试基准,最差方向对比


由于PD-TEST是不带屏蔽壳,其设计经两隔变自环。PD-TEST原理设计大体如下:

2) 测试模型改为:将设备的灯板和风扇插座去掉,保持24口全接1.5米网线自环广播,不接PD进行测试。

3)测试模型改为:将设备的POE子板拔除,54V和12V依然接在主板上,保持24口全接1.5米网线自环广播,不接PD进行测试。

4) 测试模型改为:将设备的POE子板拔除,仅12V依然接在主板上,保持24口全接1.5米网线自环广播,不接PD进行测试。

5)测试模型改为:将设备的POE子板拔除,仅12V依然接在主板。

6)测试模型改为:将设备的POE子板拔除,54V和12V上主板,软件自环LP=PHY 24口广播,网口不接网线

通过以上几种模型测试,可形成以下初步判断:
1)12V电源系统是主要辐射源,PSE子板跨隔变飞越与主板平行耦合加之54V电源系统使之恶化;
2)辐射路径主要通过网线耦合和电源线耦合出来;
1、 定位辐射源并整改源头
对于主板上具有开关频率特性的器件,主要为DC-DC Buck 芯片、Switch、PHY 、DDR和晶体。由此通过频谱仪进行近场扫描。近场测试的时候,仅用开关电源的12V接到主板进行测试。对各路DC-DC Buck电路扫描的时候U32 MP8708其低频的强度非常高,如下:

其近场波形和远场的包络类似,通过测试MP8078的SW PIN脚输出,有较大的开关噪声如下:


最高能达到18V,过冲脉宽10ns左右,其它路MP1497也都存在这个问题。对其整改BST和SW之间的RC 参数后,如下:


整改后的近场扫描的结果如下:

从前面的测试模型,可以知道辐射路径主要是通过网线和电源线耦合辐射出来的。
将PHY端处的中心抽头的电容由103 改为104 :


没有明显改善。通过近场扫描点测半包RJ45的金属壳部分(24口广播条件下),如下:

RJ45半包的金属壳地就是PGND 即整个机壳地,单纯在主板内部上修改很难起到作用。有效的方法就是减少耦合辐射路径,将网线从1.5米改为1米。
将在开关电源的AC输入部分增加磁环,并将PE线改为最短。

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