【会员风采】一周两台，全速交付！飞仕得8英寸SiC晶圆老化测试系统产能火力全开

以下文章来源于Firstack智能装备，作者Firstack

为积极响应8英寸SiC产业建线及扩容提速需求，补齐SiC晶圆量产可靠性测试刚需短板。飞仕得产能全面拉满、履约全速推进！

刚刚过去的一周，飞仕得顺利完成两台8英寸 SiC 晶圆老化测试系统交付！标志着公司核心设备正式驶入批量交付快车道，为国内SiC产业链提升量产效率与可靠性提供稳定支撑。

SiC晶圆老化测试系统ME200WLR核心优势

支持6/8吋SiC晶圆，支持HTGB和HTRB两种老化模式，支持多层混合老化

HTGB及HTGB+HTRB两种机型针卡通用，减少针卡需求数量，使用维护便捷

高精度对位系统，对位精度＜10μm

高WPH全自动上下片系统，5min完成晶圆换片

此次“一周两台”的密集批量交付，既是市场对飞仕得SiC测试设备技术实力、产品性能的高度认可，也是飞仕得产能释放、规模化交付能力成熟的有力印证。目前，飞仕得生产基地已实现满负荷产能运转，生产、装配、调试、交付全流程高效协同，持续加速设备批量落地，助力更多半导体企业突破SiC量产测试瓶颈。

飞仕得设备产线

未来，FIRSTACK将持续聚焦新型功率半导体测试需求，坚持技术创新与产能升级双向发力，以更优质的测试设备、更高效的交付服务、更完善的技术解决方案，为功率半导体设计、生产、应用保驾护航，构建功率半导体与系统的可靠连接。

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